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NI第十二屆“中國PXI技術和應用論壇”在京舉行

引領PXI技術創(chuàng)新
2015-06-08 16:35 6143
由美國國家儀器有限公司(National Instruments)主辦的第十二屆“中國PXI 技術和應用論壇”(PXI Technology & Application Conference) 北京站會議圓滿閉幕。

上海2015年6月8日電 /美通社/ -- 由美國國家儀器有限公司 (National Instruments,簡稱 NI) 主辦的第十二屆“中國 PXI 技術和應用論壇”(PXI Technology & Application Conference,即 PXI TAC) 北京站會議圓滿閉幕。在今年的 PXI TAC 會議上,NI 展示了 PXI 最新的技術發(fā)展以及應用案例,推出了業(yè)界首款基于 PCle 第三代技術的 PXI 嵌入式控制器和高帶寬 PXI 機箱,大幅推動了 PXI 技術的進步和 PXI 在高性能應用場合中的廣泛應用。

NI第十二屆 “中國PXI技術和應用論壇”北京站會議圓滿閉幕
NI第十二屆 “中國PXI技術和應用論壇”北京站會議圓滿閉幕

 

NI PXI平臺和儀器研發(fā)副總裁Robert Canik
NI PXI平臺和儀器研發(fā)副總裁Robert Canik

NI 始終致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn),在本次 PXI TAC 會議上,NI 詳細介紹了基于 Intel Xeon 處理器的 NI PXIe-8880 控制器和業(yè)界首款采用第三代 PCI Express 技術的 NI PXIe-1085 機箱。NI PXI 平臺和儀器研發(fā)副總裁 Robert Canik 表示:“未來的自動化測試和控制將會更加復雜、要求更快速度和更高品質。在這種背景下,PXI 平臺憑借其靈活、開放的特性,加之 NI 的圖形化編程軟件 LabVIEW 的相輔相成,使其在測試測量領域占據(jù)絕對領先優(yōu)勢。全新的18槽機箱采用了第三代 PCI Express 技術,每個插槽配備8條通道,以匹配 24 GB/s 的系統(tǒng)總帶寬,從而使任何測試和測量系統(tǒng)都能夠輕松滿足未來需求?!?/p>

面對爆發(fā)式無線技術的增長,PXI 技術和應用論壇北京站活動還設立了射頻應用專題討論。專題以 PXI 射頻平臺為核心,介紹了無線領域前沿技術與最新應用。同時北京站還開設了動手課程,現(xiàn)場的與會者有機會親手參與構建基于 PXI 技術的完整自動化測試系統(tǒng),并完成自定義測量任務,參與者在實踐中可親身體會到 PXI 技術的優(yōu)勢與便利。除北京站以外,2015 PXI 技術和應用論壇還將陸續(xù)在廣州、西安、上海舉行。專題討論將覆蓋射頻應用、消費電子、國防與航空航天、汽車電子四個專業(yè)領域。

今年是 PXI 技術發(fā)展的第十八個年頭。自從1997年 NI 推出業(yè)界第一款 PXI 機箱開始,NI 就一直是 PXI 技術的創(chuàng)新者和領導者,18年來 NI 一如既往地追求卓越,不斷在測試測量領域進行創(chuàng)新和持續(xù)投入。在中國,伴隨著2015年 PXI TAC 在北京站的成功舉辦,PXI 技術平臺將進一步被測試測量界的工程師所接受,PXI 技術也幫助中國的客戶成功面對了各類應用挑戰(zhàn)。相信 NI 所提供的開放式的 PXI 平臺在未來仍將幫助工程師與科學家們加速新興應用的實現(xiàn)。

Photo - http://photos.prnasia.com/prnh/20150608/0861505044-a
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消息來源:美國國家儀器
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