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羅德與施瓦茨的全新 R&S RTE 示波器

羅德與施瓦茨
2014-02-27 14:23 10701
R&S RTE 數(shù)字示波器為嵌入式設(shè)計開發(fā)、電力電子分析和常規(guī)調(diào)試等日常測試測量任務(wù)提供快速可靠的解決方案。

易于使用并帶有功能強大的分析工具

慕尼黑2014年2月27日電 /美通社/ -- R&S RTE 數(shù)字示波器為嵌入式設(shè)計開發(fā)、電力電子分析和常規(guī)調(diào)試等日常測試測量任務(wù)提供快速可靠的解決方案。用戶可受益于較高的采樣采集率和良好的信號保真度等特點。一套全面的測量和分析工具能夠快速得出結(jié)果,而高分辨率觸摸屏使得 R&S RTE 非常好用。

羅德與施瓦茨 (Rohde & Schwarz) 的全新 R&S RTE 帶寬在 200 MHz 至 1 GHz 之間。每秒一百萬波形以上的采集速率可幫助用戶快速找到信號故障。該示波器高度精確的信號觸發(fā)系統(tǒng)幾乎沒有觸發(fā)抖動,結(jié)果高度精確。單核 A/D 轉(zhuǎn)換器有7個以上有效位數(shù) (ENOB),幾乎完全消除了信號失真。采樣率為每秒 5 Gsample,較大存儲深度為每通道 50 Msample,R&S RTE 可在分析 I2C 和 CAN 等串行協(xié)議數(shù)據(jù)內(nèi)容時準(zhǔn)確記錄長信號序列。

執(zhí)行復(fù)雜任務(wù)的用戶將尤其欣賞 R&S RTE 較高的測量速度。比如,波罩測試可以快速得出統(tǒng)計結(jié)論結(jié)果。這種類似頻譜分析儀的高響應(yīng)性 FFT 甚至能夠可靠地檢測到零星信號,從而使得 R&S RTE 成為產(chǎn)品開發(fā)期間理想的電磁干擾調(diào)試產(chǎn)品。

借助高分辨率 10.4" XGA 觸摸屏,用戶可以直觀地執(zhí)行其日常測試測量任務(wù)。比如,他們只需要敲擊屏幕就可以訪問保存的儀器設(shè)置。他們還可以通過簡單地“拖拽”波形在屏幕上進行排列。

更多信息,請訪問 http://www.scope-of-the-art.com/ad/press/rte 。

媒體聯(lián)系人:

Christian Mokry,電話:+49(89)4129-13052,電郵:press@rohde-schwarz.com

消息來源:羅德與施瓦茨
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