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藍(lán)菲光學(xué)將參加2013第三屆高工LED照明展

2013-11-22 15:30 6759
美國藍(lán)菲光學(xué)(Labsphere)將應(yīng)邀參加2013年11月25日至27日在廣州保利世貿(mào)中心博覽館舉辦的2013第三屆高工LED照明展,展位號(hào)為2M73。

上海2013年11月22日電 /美通社/ -- 美國藍(lán)菲光學(xué)(Labsphere)將應(yīng)邀參加2013年11月25日至27日在廣州保利世貿(mào)中心博覽館舉辦的2013第三屆高工LED照明展,展位號(hào)為2M73。

作為全球光測量領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者,藍(lán)菲光學(xué)的光譜測試系統(tǒng)及積分球用漫反射涂料享譽(yù)全球照明及LED行業(yè),在全球擁有眾多用戶。藍(lán)菲光學(xué)將在本次盛會(huì)上與參觀者分享2013年度藍(lán)菲光學(xué)在光譜測試領(lǐng)域取得的最新卓越成果。

屆時(shí),藍(lán)菲光學(xué)不僅展示專為照明及LED工業(yè)類用戶量身定制的LFC光譜測試系統(tǒng),同時(shí)還將全方位展示藍(lán)菲光學(xué)最新推出的新一代可自由定制系統(tǒng)模塊的光譜測試系統(tǒng) -- illumia® plus。

封裝LED行業(yè)的用戶可以了解如何利用藍(lán)菲光學(xué)的I1000B型和I2000 A&B型平均光譜強(qiáng)度探頭測量產(chǎn)品的CIE平均光譜強(qiáng)度。

參觀者還可以在藍(lán)菲光學(xué)的展位上看到現(xiàn)今市場上功能較強(qiáng)大的便攜式光譜分析測試設(shè)備 --illumia® lite,并親自體驗(yàn)藍(lán)菲光學(xué)最新推出的光譜測試平臺(tái)Integral®是如何徹底改變傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測試方式的。 Integral®軟件平臺(tái)能讓用戶的測試不再受到地域的限制,只需一臺(tái)可以訪問HTML5瀏覽器的終端設(shè)備,便可以從全球任一地點(diǎn)看到實(shí)驗(yàn)室的測試結(jié)果。

作為全球首個(gè)定位于LED產(chǎn)業(yè)鏈的展覽會(huì),高工LED展以其獨(dú)特的展示方式、高端的品牌定位,打造LED行業(yè)風(fēng)向標(biāo),為業(yè)界搭建了一個(gè)專業(yè)而高品質(zhì)的LED產(chǎn)品展示交流及采購平臺(tái)。

消息來源:豪邁(Halma)
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