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蔡司全球新品發(fā)布會即將上線 | 美通社

2020-10-20 09:55

三款新品介紹

10月20日,蔡司全球新品發(fā)布會暨新品技術(shù)分享會(ZEISS Innovation Rocks)將拉開帷幕,助力企業(yè)提升競爭力,創(chuàng)造美好未來。今年春季的線上發(fā)布會,蔡司的四款新品橫空出世,獲得業(yè)內(nèi)高度關(guān)注。此次,蔡司準(zhǔn)備了更多新品,六款產(chǎn)品將陸續(xù)在10月20日-22日、10月27日-29日揭開面紗。

對小、薄、軟及復(fù)雜產(chǎn)品的測量需求逐年增加,幫助企業(yè)應(yīng)對測量質(zhì)量挑戰(zhàn)是蔡司所擅長的領(lǐng)域。第一場發(fā)布會以“從全新視角捕捉質(zhì)量數(shù)據(jù):蔡司光學(xué)測量系列”為主題,將揭曉最新的光學(xué)測量設(shè)備,通過創(chuàng)新技術(shù)提高檢測速度及分辨率,全力滿足客戶日益嚴(yán)苛的精度和效率需求。

零部件的功能性、可靠性和使用壽命與其表面的潔凈度密切相關(guān),對于醫(yī)療植入件、汽車制動裝置等更是如此。第二場發(fā)布會將“打破思維定勢,重塑光學(xué)檢測和清潔度分析”。從推出第一臺通用測量顯微鏡開始,近百年來蔡司不斷推動工業(yè)測量顯微鏡的演進(jìn)。在MALS? 技術(shù)的加持下,蔡司新型數(shù)碼顯微鏡將呈現(xiàn)又一場視覺檢測革命。

缺陷檢測是品質(zhì)控制的重要步驟,自動化、智能化技術(shù)令缺陷檢測事半功倍。第三場發(fā)布會將“探索內(nèi)外缺陷無限可能”,展示在線、全天候作業(yè)場景下的高速缺陷檢測解決方案,帶領(lǐng)用戶了解如何使用X射線和光學(xué)技術(shù)發(fā)現(xiàn)內(nèi)外部缺陷,逐步實現(xiàn)從機(jī)器學(xué)習(xí)到自動決策,化繁為簡。

(美通社,2020年10月20日上海)